服務(wù)項目
我們的項目
非破壞性分析
電性檢測
失效點定位
破壞性物理分析
物理分析
工程樣品封裝服務(wù)
競爭力分析
砷化鎵銦微光顯微鏡
激光束電阻異常偵測
Thermal EMMI(InSb)
砷化鎵銦微光顯微鏡(InGaAs)與微光顯微鏡(EMMI)其偵測原理相同,都是用來偵測故障點定位,尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具。
(1)半導(dǎo)體失效分析 (2)通訊領(lǐng)域中光斑分析 (3)光學(xué)相控陣
先進制程組件、IC芯片