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服務(wù)項(xiàng)目

Project
材料分析
IC真?zhèn)螜z測(cè)
失效分析
DPA檢測(cè)
開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
可靠性驗(yàn)證
電磁兼容(EMC)
化學(xué)分析
產(chǎn)品認(rèn)證
其他檢測(cè)項(xiàng)目

我們的項(xiàng)目

X-RAY檢測(cè)

功能檢測(cè)

粒子碰撞噪聲檢測(cè)

密封

內(nèi)部水汽含量

超聲波掃描(SAT檢測(cè))

可焊性測(cè)試

開(kāi)蓋測(cè)試

鍵合強(qiáng)度

芯片剪切強(qiáng)度

結(jié)構(gòu)

外觀檢測(cè)

粒子碰撞噪聲檢測(cè)

· 項(xiàng)目描述

顆粒碰撞噪聲檢測(cè)目的是檢測(cè)器件封裝腔體內(nèi)存在的自由粒子,這是一種非破壞性試驗(yàn),當(dāng)粒子質(zhì)量足夠大時(shí),通過(guò)它們與器件封裝殼體碰撞時(shí)激勵(lì)換能器而被檢測(cè)出來(lái)。

· 檢測(cè)內(nèi)容

通過(guò)一定頻率的振動(dòng),使多余物在系統(tǒng)內(nèi)產(chǎn)生位移,檢測(cè)出封裝內(nèi)的多余物松散顆粒

· 應(yīng)用領(lǐng)域

所有空腔封裝器件

· 檢測(cè)設(shè)備